长盈宝配资官网兆易创新获得发明专利授权：“存储芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示兆易创新（603986）新获得一项发明专利授权，专利名为“存储芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质”，专利申请号为CN202311404567.0，授权日为2026年6月16日。

专利摘要：本公开提供了一种存储芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及半导体技术领域。方法包括：对存储芯片执行M次崩应循环测试，M为大于0的正整数，每次崩应循环测试包括如下步骤：对存储芯片执行N次写操作，其中，N为大于1的正整数；在执行完N次写操作的情况下，对存储芯片进行验证，得到验证结果；基于崩应循环测试后存储芯片的M个验证结果，得到崩应测试结果。本公开执行完M次崩应循环测试后才基于M个验证结果得的崩应测试结果，从而可以减少因轻微接触不良导致存储芯片误判为失效品的概率。此外，在执行完N次写操作后，对存储芯片进行验证，从而减少了崩应测试过程中验证的次数，进而减少崩应测试时长，降低测试成本。

今年以来兆易创新新获得专利授权20个，较去年同期减少了28.57%。结合公司2025年年报财务数据，2025年公司在研发方面投入了11.17亿元，同比减0.48%。

通过天眼查大数据分析，兆易创新科技集团股份有限公司共对外投资了26家企业，参与招投标项目28次；财产线索方面有商标信息121条，专利信息1446条，著作权信息40条；此外企业还拥有行政许可8个。

数据来源：天眼查APP

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